光电直读光谱仪由光源部分、聚光部分、分光部分和测光部分所组成。光源部分使试样激发发光;聚光部分是把发出的光聚集起来导入分光部分;分光部分是将光色散成各元素的谱线;测光部分是用光电法测量各元素的谱线强度，并指示、记录下来，或是将其测光读数换算成为元素质量分数表示出来。1.光源发生器光电直读光谱仪的光电光谱分析使用的光源发生器有火花发生器、电弧发生器和低压电容放电发生器等。2.光源的电极架部分用于装载块状试样、棒状试样和对电极。块状电极架一般能装直径20mm以上的平面试样，有的使...

光谱起源于17世纪，1666年物理学家Newton第一次进行了光的色散实验。他在暗室中引入一束太阳光，让它通过棱镜，在棱镜后面的白屏上，看到了红、橙、黄、绿、蓝、靛、紫7种颜色的光分散在不同位置上，这种现象被称作光谱。到1802年英国化学家Wollaston发现太阳光谱不是一道无缺的彩虹，而是被一些黑线所割裂。1814年德国光学仪器专家Fraunhofer研究太阳光谱中的黑斑的相对位置时，采用狭缝装置改进光谱的成像质量把那些主要黑线绘出光谱图。1825年Talbot研究钠盐、...

X射线衍射仪三个物理量：衍射谱上可以直接得到的有三个物理量，即衍射峰位置(2θ)、衍射峰强度(I)及衍射峰形状(f(x))。粉末衍射可解决的任何问题或可求得的任何结构参数一般都是以这三个物理量为基础的。X射线衍射仪主要技术参数:一台好的仪器应能得到准确(测得的数值与其真值相符)并精确(测量重复性好)的2θ、I及f(x)，需要考虑下列几个主要技术参数：1、X射线发生器的稳定度：这不仅关系到所测衍射强度的准确可靠，而且关系到所有部件的准确和稳定。现代粉末衍射仪的光源稳定性一般在外...

X射线衍射仪的基本构造X射线衍射仪的形式多种多样，用途各异，但其基本构成很相似，为X射线衍射仪的基本构造原理图，主要部件包括4部分。(1)高稳定度X射线源提供测量所需的X射线,改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长,调节阳极电压可控制X射线源的强度。(2)样品及样品位置取向的调整机构系统样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。(3)射线检测器检测衍射强度或同时检测衍射方向,通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。(4)衍射图的处理分析系统现代X射线衍...

x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近，晶体可以作为X射线的空间衍射光栅，即一束X射线照射到物体上时，受到物体中原子的散射，每个原子都产生散射波，这些波互相干涉，结果就产生衍射。衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强，在其他方向上减弱。分析衍射结果，便可获得晶体结构。以上是1912年德国物理学家劳厄(M.vonLaue)提出的一个重要科学预见，随即被实验所证实。1913年，英国物理学家布拉格父子(W.H.Bragg，W.L.Bragg)在劳厄发现的基础上，不仅成功的...

锂中Al的元素测定EDXRF分析报告这是在FMC锂工厂(NorthCarolina)现场作的演示.用户提供了7块锂中铝的校正片,浓度范围2--4800ppm.在3小时内,仪器设置,冷却,建立校正曲线,分析样品并作精密度测定。

磁铁矿粉中铁及14种杂质元素的ED-XRF同时分析背景:过去,此项分析的常规方法是化学法,耗时费力,采用ED-XRF可以同时测定主量元素和14种杂质元素,耗时只几分钟,不只快得多，而且大节省人力和材料消耗。

铜合金中Cu,Sn,Ni,Zn的ED-XRF分析(1)仪器:ARLQUANTX型X-射线荧光能谱仪仪器特点:ARLQUANTX型X-射线荧光能谱仪是一种高性能的多元素同时分析系统。

硅锰中Si,P,Mn,S的ED-XRF分析仪器:ARLQUANT'X型X-射线荧光能谱仪仪器特点:ARLQUANTX型X-射线荧光能谱仪是一种高性能的多元素同时分析系统。

仪器:ARLQUANT’X型X-射线荧光能谱仪仪特点:ARLQUANT’X型X-射线光能谱仪是一种高性能的多元素同时分析系统。元素分析范围:Na-，可满足多种样品类型，如固体，液体，块状，薄膜等。