欢迎来到博纳科仪器(上海)有限公司

服务热线:

技术文章/ Technical Articles

您的位置:首页  /  技术文章  /  X射线荧光光谱法测试通用氧化物

X射线荧光光谱法测试通用氧化物

更新时间:2024-05-09      浏览次数:135

  波长-色散X射线荧光光谱仪(WD-XRF),可以测试各种形式和性质的样品(固体或液体,导体或非导体),可分析元素周期表上多达83个元素。与其他技术相比,XRF的优点是分析速度快,样品容易制备,稳定性好,精度高,动态范围广。

X射线荧光光谱法测试通用氧化物

  • 联系电话:18964690853

  • 联系邮箱:27228489@qq.com

  • 公司地址:上海市松江区九亭镇莘砖公路518号11号楼304室

Copyright © 2024 博纳科仪器(上海)有限公司版权所有   备案号:沪ICP备2023023233号-2   技术支持:化工仪器网

sitmap.xml   管理登陆

TEL:18964690853

关注公众号